SEM5000X
| ProveedoresParceiros | CIQTEK |
| SectoresSetores | Alimentación-Agua y MedioAmbiente, Automoción-Aeronautica, Energía-Electrónica, Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia, I+D-Servicios Laboratorio-Docencia, Químico – Metales y Minerales |
| Parámetros de MedidaParâmetros de medição | FE-SEM |
| Tipos de MuestraTipos de amostra | Sólidos |
• Resolución ultraalta(0,6 nm@15 kV)
• Supertúnel
• Modo de desaceleración dual (Dul-Dec)
• Etapa de muestra mecánica eucéntrica
• Bloqueo de carga de intercambio de muestras (máximo 8″)
| Información Técnica | |
|---|---|
| Resolución | 0,6 nm a 15 kV, SE 1,0 nm a 1 kV, SE |
| Voltaje de aceleración | 20 V ~ 30 kV |
| Aumento | 1 ~ 2.500.000x |
| Pistola de electrones | Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo |
| Sistema de vacío | Control completamente automático. |
| Cámara | Cámaras duales (navegación óptica + monitor en el contenedor) |
| Tipo de etapa | Etapa de muestra eucéntrica mecánica de 5 ejes |
| Rango de escenario | X=110 mm, Y=110 mm, Z=65 mm T: -10*~+70°, R: 360° |
| Estándar | • El detector electrónico de alto ángulo en la columna de lentes • El detector electrónico lateral de ángulo bajo |
| Opcional | • Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) • Detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM) • Espectrómetro de dispersión de energía (EDS) • Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) • Bloqueo de carga para intercambio de muestras (4″ y 8″ opcional) • Trackball y Panel de control de perillas • Desaceleración en tándem de la etapa de muestra • Campo magnético y Sistema de recinto contra ruido acústico (certificado SEMI) |
| Funciones automáticas | Contraste de brillo automático, enfoque automático, disipación automática |
| Sistema operativo | Windows |
| Idiomas | Inglés |
| Navegación | Nav-Cam, navegación rápida por gestos |
| Funciones automáticas | Brillo y brillo automáticos. Contraste, enfoque automático, estigmador automático |
