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IESMAT 9 Equipos 9 SEM 4000

SEM 4000

Microscópio electrónico de barrido

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente magnética de tres etapas, con una corriente de haz grande y continuamente ajustable, tiene ventajas obvias en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones. Admite modo de bajo vacío, puede observar directamente la conductividad de muestras débiles o no conductoras. El modo de navegación óptica estándar, así como la interfaz de operación intuitiva, facilitan el trabajo de su análisis.

  • Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración.
  • Alta resolución, mejor que la resolución de 1 nm a 30 kV
  • Diseño de lente magnética de tres etapas, rango ajustable de haz amplio
  • Detectores de electrones secundarios de alto rendimiento y bajo vacío, observan muestras débiles o no conductoras
  • Diseño de objetivo magnético sin fugas, puede observar directamente muestras magnéticas
  • Modo de navegación óptica estándar
Información Técnica
Resolución • 1,0 nm a 15 kV, SE
• 1,5 nm a 1 kV, SE
• 0,8 nm a 30 kV, VÁSTAGO
Voltaje de aceleración 20 V ~ 30 kV
Aumento 1 ~ 2.500.000x
Pistola de electrones Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
Sistema de vacío Control completamente automático, sistema de vacío sin aceite.
Cámara Cámaras duales (navegación óptica + monitor en el contenedor)
Distancia • X: 120 mm, Y: 115 mm, Z: 50 mm
• T: -10°~ +90°, R: 360°
• (*Versión de contenedor extra grande opcional disponible)
Estándar • El detector electrónico de alto ángulo en la columna de lentes
• El detector electrónico lateral de ángulo bajo
Opcional • Detector de electrones retrodispersados de ángulo medio empotrado
• Detector automático de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM)
• Cámara de intercambio de muestras
• Puerta de haz de alta velocidad y exposición al haz de electrones.
• Espectroscopía de energía dispersiva (EDS/EDX)
• Difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)
• Corriente inducida por haz de electrones (EBIC)
• Catodoluminiscencia (CL)
• NanoManipulador de mesa de estiramiento in situ de alta y baja temperatura
• Unión de imágenes a gran escala
• Panel de control con trackball y perilla
Sistema operativo Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos
Funciones automáticas Contraste de brillo automático, enfoque automático, disipación automática

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