SEM 5000
| ProveedoresParceiros | CIQTEK |
| SectoresSetores | Alimentación-Agua y MedioAmbiente, Automoción-Aeronautica, Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia, I+D-Servicios Laboratorio-Docencia |
| Parámetros de MedidaParâmetros de medição | FE-SEM |
| Tipos de MuestraTipos de amostra | Sólidos |
01 Imágenes de alta resolución con bajo voltaje de aceleración.
02 El espejo compuesto electromagnético reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajos voltajes y permite la observación de muestras magnéticas.
03 Tecnología de túneles de alta presión (SuperTunnel), donde los electrones en el túnel pueden mantener alta energía, reduciendo los efectos de carga espacial y asegurando una resolución de bajo voltaje.
04 La ruta óptica electrónica sin cruce reduce efectivamente la aberración del sistema y mejora la resolución.
05 Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua, para garantizar la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del trabajo de la lente objetivo.
06 Diafragma ajustable de seis orificios de deflexión magnética, orificio de diafragma de conmutación automática, sin ajuste mecánico, para lograr una observación de alta resolución o un cambio rápido del modo de análisis de haz grande.
| Información Técnica | |
|---|---|
| Resolución | • 1,0 nm a 15 kV, SE • 1,5 nm a 1 kV, SE • 0,8 nm a 30 kV, VÁSTAGO |
| Voltaje de aceleración | 20 V ~ 30 kV |
| Aumento | 1 ~ 2.500.000x |
| Pistola de electrones | Pistola de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo |
| Sistema de vacío | Control completamente automático, sistema de vacío sin aceite. |
| Cámara | Cámaras duales (navegación óptica + monitor en el contenedor) |
| Distancia | • X: 120 mm, Y: 115 mm, Z: 50 mm • T: -10°～ +90°, R: 360° • (*Versión de contenedor extra grande opcional disponible) |
| Estándar | • El detector electrónico de alto ángulo en la columna de lentes • El detector electrónico lateral de ángulo bajo |
| Opcional | • Detector de electrones retrodispersados de ángulo medio empotrado • Detector automático de microscopía electrónica de transmisión de barrido retráctil (STEM) • Cámara de intercambio de muestras • Puerta de haz de alta velocidad y exposición al haz de electrones. • Espectroscopía de energía dispersiva (EDS/EDX) • Difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) • Corriente inducida por haz de electrones (EBIC) • Catodoluminiscencia (CL) • NanoManipulador de mesa de estiramiento in situ de alta y baja temperatura • Unión de imágenes a gran escala • Panel de control con trackball y perilla |
| Sistema operativo | Windows |
| Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos |
| Funciones automáticas | Contraste de brillo automático, enfoque automático, disipación automática |
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