SEM 5000
| ProveedoresParceiros | CIQTEK |
| SectoresSetores | Alimentação-Água e ambiente, Automóvel-Aeronáutica, Farmacêutica-Cosmética-Biotecnologia, R&D-Serviços de laboratório-Ensino |
| Parámetros de MedidaParâmetros de medição | FE-SEM |
| Tipos de MuestraTipos de amostra | Sólidos |
- Imagens de alta resolução com baixa tensão de aceleração.
- O espelho compósito eletromagnético reduz as aberrações, melhora significativamente a resolução em baixas tensões e permite a observação de amostras magnéticas.
- Tecnologia de túneis de alta pressão (SuperTunnel), onde os eletrões no túnel podem manter uma energia elevada, reduzindo os efeitos de carga espacial e assegurando uma resolução de baixa tensão.
- O caminho ótico eletrónico sem cruzamento reduz eficazmente a aberração do sistema e melhora a resolução.
- Lente objetiva de temperatura constante arrefecida a água, para garantir a estabilidade, fiabilidade e repetibilidade do trabalho da lente objetiva.
- Diafragma ajustável de deflexão magnética de seis orifícios, orifício de diafragma de comutação automática, sem ajuste mecânico, para obter observação de alta resolução ou comutação rápida do modo de análise de feixe grande.
| Informação técnica | |
|---|---|
| Resolução | 1,0 nm a 15 kV, SE1,5 nm a 1 kV, SE0,8 nm a 30 kV, HASTE |
| Voltagem de aceleração | 20 V ~ 30 kV |
| Aumento | 1 ~ 2 500 000x |
| Canhão de eletrões | Canhão de eletrões de emissão de campo Schottky de elevado brilho |
| Sistema de vácuo | Controlo totalmente automático, sistema de vácuo sem óleo. |
| Câmara | Câmaras duplas (navegação ótica + monitor no contentor) |
| Distância | X: 120 mm, Y: 115 mm, Z: 50 mmT: -10°～ +90°, R: 360°(*Versão de contentor extra grande disponível como opção) |
| Padrão | • Detetor eletrónico de ângulo elevado na coluna da lente • Detetor eletrónico lateral de baixo ângulo |
| Opcional | • Detetor de eletrões de retroespalhamento de ângulo médio integrado • Detetor automático retrátil de microscopia eletrónica de transmissão e varrimento (STEM) • Câmara de troca de amostras • Porta de feixe de alta velocidade e exposição ao feixe de eletrões. • Espectroscopia por energia dispersiva (EDS/EDX) • Difração de retroespalhamento de eletrões (EBSD) • Corrente induzida por feixe de eletrões (EBIC) • Catodoluminescência (CL) • NanoManipulador de bancada para estiramento in situ a alta e baixa temperatura • Colagem de imagens em grande escala • Painel de controlo com trackball e botão |
| Sistema operativo | Windows |
| Navegação | Navegação ótica, navegação rápida por gestos |
| Funções automáticas | Contraste de brilho automático, focagem automática, dissipação automática |
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